冷场发射扫描电子显微镜

2022-09-06      】

  仪器名称:冷场发射扫描电子显微镜 Cold-Field Emission Scanning Electron Microscope

  仪器厂商:Hitachi 

  仪器型号:SU8010 

  放置地点:生态楼109 

  技术咨询:李春勇(0731-84619737) 

  关键配置与技术指标:加速电压:0.1KV-30KV;分辨率:15KV分辨率可达1.0nm;1KV分辨率可达1.3nm;观测倍率:20~8000000倍;可进行二次电子(SE)成像,背散射电子(BSE)成像;配备X射线能谱仪,可进行微区元素成分分析,分析范围Be4~U92。 

  主要用途: 用于观察样品表面超微结构;进行微区成分分析。 

  待测样品要求:固体样品,样品需干燥不含水,无磁性、无放射性、无毒性、无挥发性等潜在危害,耐电子束;样品高度<1.5cm,直径≤5cm;含水生物样品需要脱水干燥等。 

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